บอร์ดทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ 30 ชั้นที่ผลิตโดย Uniwell Circuits มี-ความสามารถในการประมวลผลระดับสูงและมีความยากสูง เหมาะสำหรับสถานการณ์การทดสอบอัตโนมัติของชิปเซมิคอนดักเตอร์
บอร์ดทดสอบ 30 ชั้นทำจากวัสดุ S1000- 2M พร้อมการรักษาพื้นผิวด้วยทองคำหนาในพื้นที่ (50U ") ความหนาของบอร์ด 5.0 มม. รูรับแสงขั้นต่ำ 0.4 มม. และการควบคุมการบิดเบี้ยวน้อยกว่าหรือเท่ากับ 0.3% ตรงตามข้อกำหนดของการทดสอบที่มีความแม่นยำสูง บอร์ดประเภทนี้เป็นของบอร์ดโหลดทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งใช้ในการเชื่อมต่อชิปที่ทดสอบกับอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (ATE) และเป็นหนึ่งในส่วนประกอบฮาร์ดแวร์ที่สำคัญเพื่อให้แน่ใจว่าได้ผลผลิตชิป
Uniwell Circuits ได้รับกำลังการผลิตจำนวนมากในด้านแผงทดสอบ 10-32 ชั้น โรงงานสองแห่งในเซินเจิ้นและเจียงเหมินได้ผ่านการรับรองระบบคุณภาพ เช่น ISO9001 และ IATF16949 ซึ่งรองรับบริการแผงวงจรพิมพ์แบบครบวงจรตั้งแต่ตัวอย่างจนถึงชุด